產(chǎn)品中心
產(chǎn)品展示
  • 代理Otsuka大塚電子OPTM測厚儀 覆層膜厚儀 層測厚儀 厚度測量 非接觸式厚度測量?jì)x
  • 代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀 橢圓偏振光測量?jì)x 多功能橢偏儀 橢偏儀系統
  • 代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量?jì)xFE-300 多功能橢偏儀 橢偏儀系統 橢圓偏振光測量?jì)x
  • 代理日本Otsuka大塚電子Si晶圓測試儀SF-3 SiC測試儀 SiC膜厚儀 晶圓檢測設備 薄化晶圓
  • 代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-6800 MCPD-9800 涂層測厚 在線(xiàn)測色儀膜厚在線(xiàn)測試陣列光譜儀在線(xiàn)分光測色儀 光譜分析系統
  • 代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-9800 MCPD6800 在線(xiàn)測厚 光纖光譜儀 熒光光譜測試 光通量測試 單色儀
  • Otsuka大塚VR測試儀RE-200 偏光片RTH AR測試儀 大塚電子RETS
  • 代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx VR測試儀 Re測試 相位延遲測試儀 大塚電子RETS
  • Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型 該設備可離線(xiàn)輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個(gè)表面可以快速、高精度地測量。
  • Otsuka大塚電子在線(xiàn)膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷(xiāo)售 該裝置可以測量薄膜的整個(gè)寬度和總長(cháng)度，用于在線(xiàn)薄膜生產(chǎn)現場(chǎng)。 通過(guò)將新開(kāi)發(fā)的高精度薄膜厚度計算技術(shù)與專(zhuān)有光譜干涉方法相結合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
  • 江蘇代理Otsuka大塚單元間隙檢查裝置 RETS series 支持從反射型和透射型液晶封裝單元到帶濾色器的空單元的各種應用
  • Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備 它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測量。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現高精度測量。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀MCPD-9800/MCPD-6800
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區域進(jìn)行**反射率測量，可實(shí)現高精度薄膜厚度和光學(xué)常數分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無(wú)損或非接觸式測量。 測量時(shí)間可以高速測量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售OTSUKA大塚電子高靈敏度光譜輻射計HS-1000
  • 塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統。 即時(shí)測量光譜，自由組裝測量光學(xué)系統和多種選項，可根據各種目的進(jìn)行系統升級。 測量波長(cháng)范圍有四種類(lèi)型可供選擇。
    • 上一頁(yè)12345下一頁(yè)
    上一頁(yè)下一頁(yè)

蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號
精品国精品自拍自在线|色偷一区国产精品|91国在线啪精品一区|久久狠狠高潮亚洲精品|亚洲大成色www永久网站