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Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
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Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類(lèi)型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類(lèi)型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類(lèi)型
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過(guò)顯微光譜法測量高精度**反射率（多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度，光學(xué)常數） 1點(diǎn)1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統（紫外至近紅外） 區域傳感器的**機制 易于分析向導，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
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