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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):江蘇地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
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簡(jiǎn)單介紹:
Otsuka大塚VR測試儀RE-200 偏光片RTH AR測試儀 大塚電子RETS
詳情介紹:

塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理、直營(yíng)各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品,聯(lián)系人:張小姐

聯(lián)系電話(huà):15902189399  


產(chǎn)品信息

特點(diǎn)
  • 低(殘余)延遲測量從0nm
  • 在光軸檢測的同時(shí),可以高速測量延遲(Re.)(世界上
    *快的處理速度在0.1秒以下)
  • 由于沒(méi)有驅動(dòng)單元,因此可實(shí)現高重復性
  • 設置的測量項目更少,測量更簡(jiǎn)單
  • 測量波長(cháng)為550nm,以及各種波長(cháng)
  • Rth 測量,全
    向角度測量(需要可選的自動(dòng)旋轉傾斜夾具)
  • 與拉伸測試儀結合使用時(shí),可以在
    薄膜的偏振特性的同時(shí)進(jìn)行光彈性評估(該系統是定制的)。 )

 

測量項目
  • 延遲(ρ[deg.], Re[nm])
  • 主軸方位角(θ[deg.])
  • 橢圓比(ε)、方位角(γ)
  • 三維折射率(NxNyNz)

 

測量對象
  • 緩速膜、偏振膜、橢圓膜、視角改善膜、各種功能膜
  • 透明、各向異性(玻璃應變、應變等)

 

什么是 RE-200?

RE-200 將由光子晶體元件(偏振元件)和 CCD 攝像機組成的偏振測量模塊與透射偏振光學(xué)系統相結合,可實(shí)現快速、高精度的相位差(延遲)和主軸方位角測量。 由于偏振強度模式是在 CCD 攝像機的一次拍攝中獲得的,因此沒(méi)有偏振器旋轉機制,整個(gè)系統配置緊湊,即使在長(cháng)時(shí)間使用時(shí)也能保持穩定的性能。


擬合傅立葉變換以計算橢圓率ε方位角γ。

 

手勢
類(lèi)型表達式 RE series
樣本大小

*小 10×10mm 至*大 100×100mm

測量波長(cháng) 550nm (標準規格)*1
延遲測量范圍 約0nm~約1μm
軸檢測重復精度 0.05°(at 3σ) ※2
探測器 偏振測量模塊
測量點(diǎn)直徑 2.2mm×2.2mm
光源 100W 鹵素燈或 LED 光源
主體和重量 300 (W) × 560 (H) ×430 (D) 毫米,約 20 kg

 

選項

 

Rth 測量和全向角度測量是可能的 * 夾具主體(旋轉:180°,傾斜:±50°)

自動(dòng)旋轉傾斜夾具

測量示例

視角改善膜A

視角改善膜B

江蘇地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200


浙江地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200

上海地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200

杭州地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200

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