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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：
Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型 該設備可離線(xiàn)輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個(gè)表面可以快速、高精度地測量。
詳情介紹：

江蘇地區Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售

上海地區Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售

浙江地區Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售

安徽地區Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售

江蘇地區Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售

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特點(diǎn)
  • 可以檢查薄膜等面內膜厚不均
  • 高速、高精度地測量整個(gè)表面
  • 由于我們是薄膜厚度測量的專(zhuān)業(yè)制造商，我們可以提供全 面的支持
  • 通過(guò)光譜測量實(shí)現高精度薄膜厚度測量
  • 硬件和軟件的原始設計

 

線(xiàn)掃描圖像
即時(shí)分析 300mm 方形光譜數據，實(shí)現整個(gè)不均勻檢測和薄膜厚度測量

規格

測定範囲 0.7～300 μm
測定幅 250 mm
測定間隔 10 ms～
裝置サイズ(W×D×H) 459×609×927 mm
重量 60 kg
消費電力 AC100 V±10% 125 VA

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