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  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2，OTSUKA大塚半導體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1，OTSUKA大塚半導體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動(dòng)X(jué)Y型OPTM-A2顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動(dòng)X(jué)Y型OPTM-A1顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統 GS-300實(shí)現嵌入晶圓中的布線(xiàn)圖案的圖案對齊 GS-300滿(mǎn)足半導體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對齊功能
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測量晶圓和樹(shù)脂的非接觸研磨和拋光過(guò)程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測量晶圓和樹(shù)脂的非接觸研磨和拋光過(guò)程。
  • OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實(shí)現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過(guò)實(shí)施自動(dòng)可變測量角度機制來(lái)處理所有類(lèi)型的薄膜。 除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過(guò)安裝自動(dòng)延遲板分離機構提高了測量精度。 　
  • OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實(shí)現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過(guò)實(shí)施自動(dòng)可變測量角度機制來(lái)處理所有類(lèi)型的薄膜。 除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過(guò)安裝自動(dòng)延遲板分離機構提高了測量精度。 　
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀可集成到各種制造設備中可進(jìn)行實(shí)時(shí)薄膜厚度測量
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司上海代理OTSUKA大塚無(wú)損非接觸膜厚儀FE-300薄膜厚度計，通過(guò)操作簡(jiǎn)單的高精度光學(xué)干涉測量實(shí)現薄膜厚度測量。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學(xué)材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會(huì )具有破壞性和非接觸性。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監測儀
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