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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

  • 產(chǎn)品型號：SF-3
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測量晶圓和樹(shù)脂的非接觸研磨和拋光過(guò)程。
詳情介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實(shí)時(shí)和高精度測量晶圓和樹(shù)脂的非接觸研磨和拋光過(guò)程。

OTSUKA大塚電子SF-3特征：


  • 非接觸式、非破壞性厚度測量
  • 反射光學(xué)元件（可從一側接觸進(jìn)行測量）
  • 高速（*快5kHz）和實(shí)時(shí)評估
  • 高穩定性（重復精度0.01%以下）
  • 耐粗糙
  • 可在任何距離使用
  • 支持多層結構（*多 5 層）
  • 內置NG數據抑制功能
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3 



它支持廣泛的薄膜厚度范圍，并實(shí)現高波長(cháng)分辨率。
大冢電子的獨特技術(shù)被封裝在一個(gè)緊湊的機身中。

 

特點(diǎn)2：高速響應

由于它甚至可以以**的間距進(jìn)行測量，即使是移動(dòng)的測量對象，
它也是工廠(chǎng)生產(chǎn)線(xiàn)的理想選擇。


特點(diǎn)3：與各種表面條件的樣品兼容

通過(guò)約φ20μm的微小光斑，即使在各種表面條件下也可以
測量厚度。

 

特點(diǎn)4：兼容各種環(huán)境

由于可以從*遠200 mm的距離進(jìn)行測量，因此可以根據目的和應用構建
測量環(huán)境。

 

測量項目
  • 厚度測量（5層）

 

用
  • 各種厚膜厚度

 



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