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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀 塔瑪薩崎

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀可集成到各種制造設備中可進(jìn)行實(shí)時(shí)薄膜厚度測量
詳情介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀


  • 使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀
  • 搭載高精度FFT薄膜厚度分析引擎（磚利第4834847號）
  • 光纖可以自由地構建測量系統。
  • 可集成到各種制造設備中
  • 可進(jìn)行實(shí)時(shí)薄膜厚度測量
  • 支持遠程操作和多點(diǎn)測量
  • 采用長(cháng)壽命、高穩定性白光LED光源
  •   OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀
  • 測量對象：
光學(xué)膜（硬涂層、AR膜、ITO等 、FPD相關(guān)（抗蝕劑，SOI，SiO2等）
OTSUKA大塚電子光學(xué)膜測厚儀


硬涂層膜厚分析

硬涂層膜厚分析


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