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  • 代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx VR測試儀 Re測試 相位延遲測試儀 大塚電子RETS
  • Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計離線(xiàn)型 該設備可離線(xiàn)輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個(gè)表面可以快速、高精度地測量。
  • Otsuka大塚電子在線(xiàn)膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷(xiāo)售 該裝置可以測量薄膜的整個(gè)寬度和總長(cháng)度，用于在線(xiàn)薄膜生產(chǎn)現場(chǎng)。 通過(guò)將新開(kāi)發(fā)的高精度薄膜厚度計算技術(shù)與專(zhuān)有光譜干涉方法相結合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
  • 江蘇代理Otsuka大塚單元間隙檢查裝置 RETS series 支持從反射型和透射型液晶封裝單元到帶濾色器的空單元的各種應用
  • Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備 它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測量。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現高精度測量。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀MCPD-9800/MCPD-6800
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區域進(jìn)行**反射率測量，可實(shí)現高精度薄膜厚度和光學(xué)常數分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無(wú)損或非接觸式測量。 測量時(shí)間可以高速測量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數。
  • 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷(xiāo)售OTSUKA大塚電子高靈敏度光譜輻射計HS-1000
  • 塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統。 即時(shí)測量光譜，自由組裝測量光學(xué)系統和多種選項，可根據各種目的進(jìn)行系統升級。 測量波長(cháng)范圍有四種類(lèi)型可供選擇。
  • 多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區域。 光譜測量可在 5 毫秒內進(jìn)行。 標準儀器的光纖支持各種測量系統，無(wú)需識別樣品類(lèi)型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
  • 它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測量。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現高精度測量。
  • 特點(diǎn) 使用靜態(tài)光散射法測量?jì)?yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數是可能的。 可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進(jìn)行各種分析。 系統將詢(xún)問(wèn)您如何安排您的會(huì )議。 可選的桿單元支架可實(shí)現光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強度測量。
  • 使用動(dòng)態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規格。 相關(guān)計高達 4096ch，可實(shí)現多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉單元結合使用時(shí)，可以分析凝膠狀態(tài)。
  • 特點(diǎn) 使用動(dòng)態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量?jì)?yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實(shí)系數。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規格。 采用浸入式細胞光學(xué)系統，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。 相關(guān)計高達 4096ch，可實(shí)現多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉單元結合使用時(shí)，可以分析凝膠狀態(tài)。
  • 散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量 評估亞微米至數百微米的結構 使用專(zhuān)用電池測量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換 桌面類(lèi)型，可安裝在實(shí)驗室中 ※不使用HDR功能時(shí)
  • 一臺儀器可輕松連續測量 5 個(gè)樣本，無(wú)需自動(dòng)采樣器即可實(shí)現 多個(gè)樣本的連續測量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統 標準測量時(shí)間 1 分鐘的高速測量 自動(dòng)調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實(shí)現約 1 分鐘的高速測量 簡(jiǎn)單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開(kāi)始測量），無(wú)需復雜的操作 內置非浸沒(méi)式細胞塊，無(wú)分包的無(wú)孔， 每個(gè)細胞都是獨立的，因此無(wú)需擔心不成問(wèn)題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
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