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  • ■納米SAQLA的特點(diǎn) 一臺儀器可輕松連續測量 5 個(gè)樣本，無(wú)需自動(dòng)采樣器即可實(shí)現 多個(gè)樣本的連續測量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統 標準測量時(shí)間 1 分鐘的高速測量 自動(dòng)調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實(shí)現約 1 分鐘的高速測量 簡(jiǎn)單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開(kāi)始測量），無(wú)需復雜的操作 內置非浸沒(méi)式細胞塊，無(wú)分包的無(wú)孔， 每個(gè)細胞都是獨立的，因此無(wú)需擔心不成問(wèn)題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
  • 特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
  • 特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進(jìn)行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過(guò)測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
  • 特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時(shí)間 通過(guò)自動(dòng)溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量 通過(guò)測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
  • 從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內測量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測量可實(shí)現高分離粒徑分布的測量 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度 動(dòng)態(tài)光散射法可實(shí)現微流變測量 通過(guò)多點(diǎn)測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網(wǎng)狀結構和異質(zhì)性 標準流單元可連續測量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進(jìn)行測量 溫度梯度功能允許蛋白質(zhì)的變性和相變溫度分析 通過(guò)測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過(guò)濾器（可選）
  • 使用單個(gè)設備分析不同的成分，如陽(yáng)離子和陰離子。 微量樣品可實(shí)現短時(shí)間、高分辨率的分析。
  • 評估光源在紫外區域的輻射強度。 ? 通過(guò)光譜輻射測量高精度測量 亮度 ，支持 紫外、可見(jiàn)、紅外和廣泛的測量波長(cháng)范圍，可實(shí)現光生物學(xué)**評估 這是一個(gè)有限的設備，可以測量紫外線(xiàn)的亮度。
  • 評估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評估 與溫度控制單元結合使用時(shí)，溫度評估 支持紫外線(xiàn) LED 的光學(xué)特性評估，預計這些特性是**、凈化和樹(shù)脂固化。
  • 基于與 NIMS 共同開(kāi)發(fā)的單粒子診斷方法進(jìn)行測量。* ? 與國家材料科學(xué)研究所 研究員高崎正彥和武田高富史合作
  • 多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區域。 光譜測量可在 5 毫秒內進(jìn)行。 標準儀器的光纖支持各種測量系統，無(wú)需識別樣品類(lèi)型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
  • 在晶圓等研磨和拋光過(guò)程中，我們以超高速和高精度測量晶圓和樹(shù)脂的厚度。
  • 除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外，我們還通過(guò)安裝測量角度的自動(dòng)可變機制，支持各種薄膜。 除了傳統的旋轉分析儀方法外，還通過(guò)設置緩速板的自動(dòng)解吸機制，提高了測量精度。
  • 我們的 MCPD 系列內聯(lián)薄膜評估系統采用光學(xué)類(lèi)型，可在非接觸式和無(wú)損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。 可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。 （折射率為1.5時(shí)） 測量原理為分光干涉方式，在實(shí)現高測量再現性的同時(shí)，還支持多層厚度測量。 由于采用專(zhuān)有算法可實(shí)現高速實(shí)時(shí)監控，因此我們提出了*適合在線(xiàn)膠片監視器的系統。
  • 我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內聯(lián)的各種位置和應用。 由于測量原理采用光譜干涉系統，因此在實(shí)現高測量可重復性的同時(shí)，還支持多層厚度測量。 采用專(zhuān)有算法，可實(shí)現高速實(shí)時(shí)監控。
  • OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區域進(jìn)行**反射率測量，可實(shí)現高精度薄膜厚度和光學(xué)常數分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無(wú)損或非接觸式測量。 測量時(shí)間可以高速測量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數。
  • 固體激光器和高靈敏度探測器（冷卻光電倍增管）可用于測量 0.5nm 至 5000nm 顆粒的顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）。
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