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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內完成。 標準儀器的光纖允許各種測量系統，而無(wú)需指定樣品種類(lèi)。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內完成。 標準儀器的光纖允許各種測量系統，而無(wú)需指定樣品種類(lèi)。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價(jià)格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實(shí)現了穩定的數據獲取。雖然價(jià)格低，但通過(guò)取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價(jià)格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實(shí)現了穩定的數據獲取。雖然價(jià)格低，但通過(guò)取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價(jià)格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實(shí)現了穩定的數據獲取。雖然價(jià)格低，但通過(guò)取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數。
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OTSUKA大塚電子FE-300F光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡(jiǎn)單操作實(shí)現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價(jià)格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實(shí)現了穩定的數據獲取。雖然價(jià)格低，但通過(guò)取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀 帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過(guò)光散射評估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來(lái)提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò )結構分析。
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OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過(guò)光散射評估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來(lái)提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò )結構分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過(guò)光散射評估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來(lái)提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò )結構分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過(guò)光散射評估物理性能到一個(gè)新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來(lái)提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò )結構分析。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
