產(chǎn)品名稱(chēng)：蘇州代理Otsuka大塚澤塔電位測量系統 ELSZ-2000Z

它非常適合在界面化學(xué)、無(wú)機材料、半導體、聚合物、生物、制藥和醫學(xué)領(lǐng)域進(jìn)行基礎和應用研究，不僅處理細顆粒，還處理薄膜和平板樣品的表面科學(xué)。

• 新型功能材料
  燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
  生物納米相關(guān)（納米膠囊、樹(shù)突、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等
   
• 陶瓷和著(zhù)色材料工業(yè)
  陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
  無(wú)機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
  顏料（炭黑和有機顏料）的分散和聚合控制
  漿料樣品
  彩色濾光片
  懸浮礦物的收集材料吸附研究
   
• 半導體領(lǐng)域
  硅晶片表面異物附著(zhù)的機理 闡明
  研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
  CMP漿料
   
• 聚合物和化學(xué)工業(yè)
  乳液（涂料和粘合劑）的分散和聚合控制、乳膠表面改性（醫藥和工業(yè)）
  聚合物電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能研究、功能性納米顆粒
  造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究
   
• 制藥和食品工業(yè)
  乳液（食品、香料、醫療和化妝品）的分散和聚集控制、蛋白質(zhì)功能
  

• 脂質(zhì)體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑（云蘇）的功能

• 規格

  手勢

  測量原理	電泳光散射法（激光多普勒法）
  光學(xué)	異質(zhì)光學(xué)
  光源	大功率半導體激光器
  探測器	高靈敏度 APD
  單元格	標準單元、微量分配單元或濃縮單元
  溫度	0 至 90°C（帶梯度功能）
  電源	100V ± 10% 250VA
  尺寸 （WDH）	380（W)×600（D)×210（H)
  重量	22 kg

   

  測量項目

  澤塔電位	-200 ～ +200 mV
  電流動(dòng)性	-2×10 -5 ～ 2×10 -5 cm2/V.s

  測量范圍

  測量溫度范圍	0 ～ 90℃
  測量濃度范圍	澤塔電位：0.001%~40%

  *1（Latex112nm：0.00001 至 10%，?；撬幔簙40%）

   
  關(guān)于標準單元格
  標準單元單元，用于 Zeta 電位

  與稀釋樣品和高鹽濃度樣品對應的電池單元。
  可處理 pH 緊身器和極性溶劑。
  通過(guò)減小細胞橫截面面積和增加電極面積，可以測量1000mM NaCl水溶液中顆粒的Zeta電位，更不用說(shuō)鹽水了。
  
  

  [ 使用Zeta電位用標準單元單元的測量示例請點(diǎn)擊此處 ]

   

  用于澤塔電位的微量分配器單元
  ※為“微量分配單元單元”或“厚系統單元單元”的選擇式

  標準可選擇用于 Zeta 電位的微量分配器。
  業(yè)界開(kāi)創(chuàng )??！ Zeta 電位的微量分配器，可測量電滲透流。
  ?可測量微量（130μL?）。
  ?可測量鹽濃度高達100mM的Zeta電位。