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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱(chēng)：Otsuka大塚膜厚計FE-300
產(chǎn)品型號： FE-300
產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：

Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300

詳情介紹：

膜厚計FE-300

它是一種緊湊且低成本的膜厚計，可以通過(guò)高精度光學(xué)干涉法輕松測量膜厚。
我們采用了一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，從而實(shí)現了穩定的數據采集。
通過(guò)以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數。

產(chǎn)品資訊
原理
規范
設備配置

產(chǎn)品資訊

特殊長(cháng)度

支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
使用反射光譜進(jìn)行膜厚分析
緊湊且價(jià)格低廉，實(shí)現了非接觸，無(wú)破壞的高精度測量
簡(jiǎn)單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
使用峰谷法，頻率分析法，非線(xiàn)性*小二乘法，優(yōu)化法等，可以進(jìn)行多種膜厚測量。
通過(guò)非線(xiàn)性*小二乘法的膜厚分析算法，可以進(jìn)行光學(xué)常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

測量項目

**反射率測量
膜厚分析（10層）
光學(xué)常數分析（n：折射率，k：消光計數）

測量目標

功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線(xiàn)），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬質(zhì)大衣，防指紋等
半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等
光學(xué)材料
濾鏡，增透膜等
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等
其他
硬盤(pán)，磁帶，建筑材料等

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產(chǎn)品名稱(chēng)：Otsuka大塚膜厚計FE-300

膜厚計FE-300

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