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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):進(jìn)口HORIBA堀場(chǎng)先進(jìn)原子力顯微鏡SmartSPM

  • 產(chǎn)品型號: SmartSPM
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:HORIBA堀場(chǎng)
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簡(jiǎn)單介紹:
日本進(jìn)口HORIBA堀場(chǎng)先進(jìn)原子力顯微鏡SmartSPM 國內總代SmartSPM掃描探針顯微鏡是**個(gè)100%自動(dòng)化的系統,它為所有AFM和STM模式下的納米級先進(jìn)材料研究提供了快速、計量和高分辨率測量的**技術(shù)。SmartSPM可以從達到100μm范圍掃描到原子級分辨率掃描。它能夠與光學(xué)光譜(SNOM、Raman、光致發(fā)光和TERS/SERS技術(shù))無(wú)縫耦合。
詳情介紹:

進(jìn)口HORIBA堀場(chǎng)先進(jìn)原子力顯微鏡SmartSPM國內總代

操作完全自動(dòng)化

全自動(dòng)激光-光電二極管準直

更換針尖簡(jiǎn)單方便

豐富的各種測量模式

系統調試速度快

分辨率/穩定性/**度

閉環(huán)平板掃描器即可實(shí)現100μm大范圍掃描,也可實(shí)現分子/原子分辨率掃描。

標準測量無(wú)需隔振系統。

低噪音傳感器設計保證了在分子分辨率成像過(guò)程中也能打開(kāi)閉環(huán),獲得準確的結果。

快速掃描

采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實(shí)現快速掃描。

標配幾乎所有SPM模式,無(wú)需添加任何附件和額外成本

包括開(kāi)爾文探針顯微鏡,壓電響應力顯微鏡,納米蝕刻和納米操縱。

輕松升級到納米拉曼光譜儀

SmartSPM無(wú)論從軟件設計到硬件設計都能與拉曼系統進(jìn)行無(wú)縫的耦合。

測量模式

?空氣中接觸AFM;

?液體接觸AFM(可選);

?空氣中的半接觸原子力顯微鏡;

?液體半接觸原子力顯微鏡(可選);

?真正的非接觸式原子力顯微鏡;

?動(dòng)態(tài)力顯微鏡(DFM、FM-AFM);

?耗散力顯微鏡;

?Top模式;

?相位成像;

?側向力顯微鏡(LFM);

?力調制;

?導電原子力顯微鏡(可選);

?I-Top模式(可選);

?磁力顯微鏡(MFM);

?開(kāi)爾文探針(表面電位顯微鏡);

?單通開(kāi)爾文探頭;

?電容顯微鏡(SCM)

?電力顯微鏡(EFM);

?單通道MFM/EFM(“平面掃描”);

?力曲線(xiàn)測量;

?壓電響應力顯微鏡(PFM);

?PFM Top模式;

?納米光刻技術(shù);

?納米操縱;

?STM(可選);

?光電流成像模式(可選);

?伏安特性測量(可選);

?帶音叉的剪切力顯微鏡(ShFM);

?音叉法向力顯微鏡。

 

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

掃描器非線(xiàn)性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開(kāi));XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開(kāi))

高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數字閉環(huán)控制,Z向馬達趨近距離18mm

樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位:自動(dòng)樣品臺范圍:5 mm x 5 mm

定位精度:1μm

 

AFM測試頭HE001

激光波長(cháng):1300nm

激光對生物樣品無(wú)影響;

激光對光電測量無(wú)影響

系統噪聲:< 0.03 nm

全電動(dòng):4步進(jìn)電機用于懸臂和光電二極管自動(dòng)對準;

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時(shí)光路通道:帶平消色差物鏡,可同時(shí)10x,NA0.28頂部物鏡和20x,NA0.42側向物鏡;

 

AFM測試頭HE002

激光波長(cháng):1300nm

激光對生物樣品無(wú)影響;

激光對光電測量無(wú)影響;

系統噪聲:< 0.1 nm

全電動(dòng):4步進(jìn)電機用于懸臂和光電二極管自動(dòng)對準;

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道;

頂部和側向同時(shí)光路通道:帶平消色差物鏡,可同時(shí)高達100x,NA0.7側向物鏡和10x,NA0.28頂部物鏡

 *HE002不兼容液體模式。

 

光學(xué)顯微鏡

數值孔徑:NA 0.1;

放大倍率:85x1050x19英寸監視器,1/3英寸CCD;

水平視野:4.5~0.37mm;

手動(dòng)變焦:12.5倍(電動(dòng)變焦可選);

粗/精對焦單元:

兼容平顯色差物鏡:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取決于A(yíng)FM測試頭);

 

液體池(可選)

樣品尺寸:φ25mm×2mm;

樣品定位范圍:5 mm x5mm;

定位分辨率:1um;

液體池尺寸:40mm x40mm x12mm;

液體體積:3ml;

液體可交換;

高壓**器和超聲波清洗溶液池部件。

 

溫控液體池(可選)

樣品尺寸:φ25mm×2mm;

加熱:*高60℃;

冷卻:室溫以下降至5℃;

樣品定位范圍:5 mm x5mm;

定位分辨率:優(yōu)于1.5um;

液體池尺寸:40 mm x40 mm x12mm;

液體體積:3ml;

液體可交換;

高壓**器和超聲波清洗液體池部件。

 

導電力AFM(選購)

電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)

電壓范圍:-10~ +7V

電流噪聲:≤60fA(1nA量程)

導電力AFM和KPFM模式可自動(dòng)切換

 

側向力和正交力音叉支架(可選)

兼容32,768kHz音叉;

兩種固定音叉的PCB;

音叉振動(dòng)的壓電陶瓷激勵;

集成低噪聲前置放大器;

兼容側向100倍物鏡TERS\TEPL測量;

兼容頂部10x物鏡

 

納米壓痕裝置(可選)

*大載荷:5mN

負載噪聲:小于100nN

位移噪聲:小于0.2nm

 

光學(xué)系統的兼容性

紅外激光對光學(xué)成像無(wú)干擾;

可升級至OmegaScope,用于光譜、光電、SNOM和TERS&TEPL操作

 

帶光學(xué)顯微鏡支架的保護罩(可選)

隔聲:30dB;

具備靜電屏蔽功能;

具有環(huán)境控制輸入輸出接口;

100倍物鏡的精細聚焦(可選):聚焦精度0.2mm;

 

濕度控制系統(可選)

相對濕度:10%-85%

濕度穩定性:±1%

 

軟件系統

自動(dòng)準直系統;

自動(dòng)配置標準測量技術(shù);

自動(dòng)調節懸臂梁共振頻率;

能夠處理力曲線(xiàn);

宏語(yǔ)言L(fǎng)ua,用于編程用戶(hù)函數、腳本和小構件;

能用DSP宏語(yǔ)言對控制器進(jìn)行實(shí)時(shí)編程,無(wú)需重新加載控制軟件;

在坐標空間處理圖像的能力,包括制作橫截面、擬合和高達12級的多項式曲面減法;

FFT處理,具有在頻率空間處理圖像的能力,包括濾波和分析;

納米蝕刻和納米操縱;

高達5000x5000像素圖像的處理能力。


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