產(chǎn)品名稱(chēng)：模塊化顯微拉曼系統HORIBA日本堀場(chǎng)

HORIBA科學(xué)儀器部的遠程光纖耦合顯微拉曼系統為顯微拉曼、光致發(fā)光 (PL) 和熒光分析提供了便利。作為現有儀器的補充或在受限制的環(huán)境中（如通風(fēng)柜和潔凈室）進(jìn)行分析的理想選擇，光纖耦合顯微鏡以簡(jiǎn)單且經(jīng)濟高效的方式提供完整的顯微分析功能。與新一代的自動(dòng)化軟件和掃描附件聯(lián)用，可以生成常規拉曼“化學(xué)”圖像、PL成像圖和激光誘導熒光圖像，以表征材料成分和分布。光纖耦合顯微鏡上的入口光學(xué)元件可以簡(jiǎn)單方便地通過(guò)光纖或直接耦合到光譜儀和激光器。當與更長(cháng)焦長(cháng)的光譜儀結合使用時(shí)，可以獲得更高分辨率拉曼光譜和光致發(fā)光光譜。

• 耦合多個(gè)激發(fā)波長(cháng)
• 共焦分辨
• 偏振附件
• 光纖耦合或直接耦合
• 數字圖像采集
• 結構穩固
• 自動(dòng)掃描成像

HORIBA 科學(xué)儀器部的共焦拉曼顯微系統通過(guò)兩根光纖耦合到iHR光譜儀和激發(fā)光源。該顯微鏡系統結合了我們新的可互換陷波濾光片系統、可調共焦孔徑和用于自動(dòng)拉曼成像的附件用于顯微拉曼測量。集成的彩色相機可以方便的觀(guān)察樣品，捕獲數字圖像。

硬件

激光器

模塊化顯微拉曼系統有三種激發(fā)波長(cháng)可供選擇：532 nm、632.8 nm和 785 nm。

光譜儀

一系列光譜儀可用于集成到您自己的拉曼實(shí)驗中，焦長(cháng)從140 mm到1250mm可選。無(wú)論應用是用于常規測量、熒光光譜和PL成像，還是高分辨率拉曼研究，都有相應的光譜儀匹配。

• 高精度、高光譜分辨率、低雜散光
• 為拉曼優(yōu)化的光柵和信號采集光學(xué)附件
• 可升級的光譜儀平臺，可擴展熒光、PL和其他光譜測量功能

探測器

一系列探測器可用于集成到您自己的拉曼實(shí)驗中，不同芯片類(lèi)型和不同制冷溫度以滿(mǎn)足不同需求。無(wú)論是用于快速測量還是弱信號測量，都有相應的探測器可以匹配。

• 用于紫外-可見(jiàn)的高靈敏度CCD探測器
• 用于近紅外范圍的線(xiàn)陣InGaAs探測器
• 低暗電流，深度制冷（TE制冷或液氮制冷）

Superhead拉曼探頭

HORIBA的模塊化拉曼系統與多種Superhead光纖拉曼探頭兼容。它們提供強大的遠程和原位信號采集功能，非常適合反應監測、受限環(huán)境（手套箱）和便攜式信號采集要求。浸入式光纖探頭、非接觸式光纖探頭及可視探頭可選。

軟件

LabSpec 6 光譜軟件

用于全系列HORIBA拉曼光譜儀系統的LabSpec 6軟件也可用于模塊化拉曼系統。Labspec 6專(zhuān)業(yè)光譜分析軟件包，提供完備的儀器操作和數據處理功能。

附件

J1955 液相色譜流動(dòng)池

這款無(wú)熒光熔融石英樣品池的容量為20 μL，非常適合在線(xiàn)監測拉曼樣品。該樣品池有較大孔徑，用于收集激發(fā)光和樣品發(fā)射光，具有高靈敏度。平整側面允許較大光通量，同時(shí)將入射光的散射保持在較低限度。該樣品池安裝在標準樣品池支架上。

1925 石英比色皿

該樣品池體積為4 mL，橫截面為10 mm × 10 mm，并配有Teflon®塞子以盛放揮發(fā)性液體。

1920 樣品池

這款2 mL至4 mL無(wú)熒光熔融石英流通池可以配備磁力攪拌器，10 mm光程，并包括一個(gè)白色Teflon®塞子，防止樣品蒸發(fā)。

FL-1027 恒溫樣品池支架

FL-1027恒溫樣品池支架可將樣品保持在?20°C至80°C的恒定溫度下。通過(guò)外部乙二醇-水混合物（不包括在內）循環(huán)浴來(lái)維持溫度。支架還包括一個(gè)磁力攪拌器，能夠混合混濁或粘稠的樣品。

J1933 固體樣品支架

J1933固體樣品支架用于薄膜、粉末、顆粒、顯微鏡載玻片和纖維等樣品。支架包括一個(gè)帶有旋轉角度的刻度盤(pán)底座，樣品支架、彈簧夾位于底座上。

SuperHead

SuperHead是一種遠程拉曼探頭，可進(jìn)行原位非浸入式化學(xué)分析。SuperHead可以將激光束有效地傳送到樣品表面，并收集和過(guò)濾返回的拉曼信號。

SuperHead使用一根FC/PC接口光纖提供激發(fā)光，使用另一根FC/PC接口光纖收集信號光。探頭內集成的濾光片可有效濾除激光。

SuperHead可以使用非接觸式/非浸入式模式或浸入式模式進(jìn)行測量。