產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位,粒徑,分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300
詳情介紹:


產(chǎn)品信息

特征
  • 兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
  • 使用反射光譜分析薄膜厚度
  • 緊湊、低成本、非接觸式、無(wú)損和高精度測量
  • 易于設置條件和測量操作! 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 峰谷法、頻率分析法、非線(xiàn)性*小二乘法、優(yōu)化法等可實(shí)現多種薄膜厚度測量
  • 非線(xiàn)性*小二乘膜厚分析算法可實(shí)現光學(xué)常數分析(n:折射率,k:衰減計數)

 

測量項目
  • **反射率測量
  • 薄膜厚度分析(10層)
  • 光學(xué)常數分析(n:折射率,k:衰減計數)

 

測量對象
  • 功能膜、塑料
    透明導電膜(ITO、銀納米線(xiàn))、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。
  • 半導體 化合物半導體
    、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等
  • 表面處理
    DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
  • 光學(xué)材料
    濾光片、增透膜等
  • FPD
    液晶顯示器(CF,ITO,LC,PI),OLED(有機膜,密封膠)等。
  • 其他
    硬盤(pán)、磁帶、建筑材料等




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