產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):OTSUKA大塚 顯微光譜儀OPTM

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司OTSUKA大塚 顯微光譜儀OPTM
詳情介紹:


產(chǎn)品信息

從測量到結果
 
特征
  • 薄膜厚度測量所需的功能集成在頭部部分
  • 通過(guò)顯微光譜法進(jìn)行高精度**反射率測量(多層膜厚、光學(xué)常數)
  • 每點(diǎn) 1 秒內高速測量
  • 在顯微鏡下實(shí)現寬測量波長(cháng)范圍的光學(xué)系統(紫外~近紅外)
  • 帶區域傳感器的**機制
  • 簡(jiǎn)單的分析向導,即使初次使用也能進(jìn)行光學(xué)常數分析
  • 宏功能可自定義測量序列
  • 可以分析復雜的光學(xué)常數(多點(diǎn)分析方法)
  • 兼容300mm載物臺
  • 支持各種自定義

可以根據樣品的形狀和部分輕松定制測量序列

可以根據樣品的形狀和部分輕松定制測量序列




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