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  • 產品名稱：OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo
詳情介紹：


產品信息

特征
  • 采用線掃描方式實現無“遺漏”的全表面薄膜檢測
  • 可由專門從事薄膜厚度測量的制造商提供的**支持
  • 高速高精度測量
  • 使用抗顫振的光學系統
  • 寬樣品（TD 方向可達 10 m）
  • 硬件和軟件的原始設計

 

探測器可根據薄膜寬度進行擴展（*大10m）
即時分析500mm薄膜厚度數據，實現全寬測量。

規范

薄膜厚度范圍 0.7~300微米
測量寬度 500 mm~*大 10 m
測量間隔 10毫秒~
設備尺寸（寬×深×高） 81×140×343 毫米
重量 4 公斤（僅頭部）
*大功耗 交流100 V±10% 125VA





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