產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：蘇州代理OTSUKA激活測量?jì)x RETS-100nx

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。 實(shí)現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。 可以“無(wú)剝離”和“無(wú)損”測量薄膜的層壓狀態(tài)。 此外，它配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實(shí)現簡(jiǎn)單且高精度的測量。
詳情介紹：

規格

規格
 模型  飽和度測量裝置 RETS-100nx
 測量項目（薄膜、光學(xué)材料）  Ritalization（波長(cháng)色散）、慢相軸、Rth * 1、3D 折射率* 1等
 測量項目（偏光板）  吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透過(guò)率等。
 測量項目（液晶單元）  單元間隙、預傾角*1、扭曲角、配光角等
 活化測量范圍  0-60,000nm
 重復性  3σ≤0.08nm（晶體波片約600nm）
 單元間隙測量范圍  0 至 600 μm（當 Δn = 0.1 時(shí)）
 單元間隙重復性  3σ ≤ 0.005 μm（當單元間隙約為 3 μm 且 Δn = 0.1 時(shí)）
 軸檢測重復性  3σ≤0.08°（晶體波片約600nm）
 測量波長(cháng)范圍  400-800nm（可提供其他選擇）
 探測器  多通道光譜儀
 測量直徑  φ2mm（標準規格）
 光源  100W鹵素燈
 數據處理部  個(gè)人電腦、顯示器
 舞臺尺寸：標準  100mm x 100mm（固定載物臺）
 選項  ?超高延遲測量
 ?多層測量
 ?軸角校正功能
 ?自動(dòng)X(jué)Y臺
 ?自動(dòng)傾斜旋轉臺

* 1 需要自動(dòng)傾斜旋轉平臺（可選）

產(chǎn)品信息

特殊長(cháng)度
只有獨特的分光鏡才能完成的高精度測量

■ 高精度


通過(guò)多波長(cháng)測量實(shí)現高精度
λ / 4、λ / 2 等在短波長(cháng)下難以測量的結果可以作為近似值獲得。 可以在不受膜厚干涉波形影響的情況下獲得結果。
<高精度的原因> -使用獨特
的高性能多通道光譜儀-
由于 　　　可以獲得大量的透射率信息，因此可以進(jìn)行高精度測量
（獲得的透射率）。約500個(gè)波長(cháng)，是其他公司產(chǎn)品的約50倍）

 

■ 寬測量范圍（保留范圍：0 至 60000 nm）

■ 寬測量范圍 即使在相同強度下也可以從其他波長(cháng)數據計算

 

■ 了解延遲波長(cháng)色散形狀

■ 可以測量顯示延遲波長(cháng)色散形狀的反向色散樣品。

 

超高延遲測量-超雙折射薄膜的高速高精度測量-

■ 高延遲
■ 高延遲測量 即使有如此高的延遲，也可以使用獨特的算法在沒(méi)有參數的情況下進(jìn)行分析。
超高 Re.60000nm 兼容

 

多層測量-可以測量各種薄膜的層壓狀態(tài)而不剝落-

多層測量 無(wú)需剝離，可原樣測量

 

軸向角校正功能-即使樣品安裝未對準，也可輕松且可重復地測量-

■ 更換樣品10次，比較有無(wú)角度校正的結果
【樣品：相位差膜R85】

重新定位樣品 10 次并比較有和沒(méi)有角度校正的結果。

 

簡(jiǎn)單的軟件——測量時(shí)間和處理時(shí)間大大減少。大大提高了可操作性-

簡(jiǎn)單的軟件所有操作都可以在一個(gè)屏幕上完成！

光學(xué)系統

特殊長(cháng)度
固定載物臺 [選項：軸向角度校正功能]

固定舞臺

 

自動(dòng)傾斜旋轉平臺 [選項]

自動(dòng)傾斜旋轉臺

 

自動(dòng) XY 載物臺 [選項]

自動(dòng)X(jué)Y平臺


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