產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：蘇州代理OTSUKA 線(xiàn)掃描膜厚儀在線(xiàn)式

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
它是一種可以在在線(xiàn)薄膜生產(chǎn)現場(chǎng)測量薄膜厚度的設備。 通過(guò)將開(kāi)創(chuàng )的光譜干涉儀與新開(kāi)發(fā)的高精度膜厚計算處理技術(shù)相結合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
詳情介紹：

產(chǎn)品信息

特殊長(cháng)度
  • 采用線(xiàn)掃描方式，實(shí)現無(wú)“遺漏”的全尺寸薄膜檢測
  • 只有專(zhuān)門(mén)從事薄膜厚度測量的制造商才能提供的全 面支持
  • 可以進(jìn)行高速、高精度的測量
  • 使用抗顫振的光學(xué)系統
  • 寬樣品（TD方向*長(cháng)可測量10m）
  • 硬件和軟件的原創(chuàng )設計

 

可根據膜寬（MAX10m）加裝檢測器

即時(shí)分析 500 mm 薄膜厚度數據以實(shí)現全寬測量


規格

膜厚范圍 0.7-300微米
測量寬度 500 mm 至 10 m
測量間隔 10 毫秒 ~
設備尺寸（寬 x 深 x 高） 81 x 140 x 343 毫米
重量 4公斤（僅頭部）
*大功耗 AC100 V ± 10% 125VA

測量示例

PET薄膜厚度測量

PET薄膜拉伸時(shí)具有雙折射，光譜如圖所示。我們的開(kāi)創(chuàng )處理抑制了雙折射的影響，實(shí)現了高精度測量。

PET的反射光譜
大冢電子的開(kāi)創(chuàng )技術(shù)：抑制雙折射影響的技術(shù)
 

適用于 500 mm 寬的包裝薄膜

從一條線(xiàn)的測量圖像中提取一個(gè)點(diǎn)的光譜，并通過(guò)FFT分析光譜。

 

分析結果示例：軟屏



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