產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):超快光譜干涉式測厚儀Otsuka大冢

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
它以非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過(guò)程,具有超高速、實(shí)時(shí)和高精度的晶片和樹(shù)脂。
詳情介紹:
  • 可進(jìn)行非接觸式、非破壞性厚度測量
  • 折反射系統(可以從一側接觸測量)
  • 高速(*大速度 5kHz)和實(shí)時(shí)評估成為可能
  • 實(shí)現高穩定性(重復精度 0.01% 以下)
  • 抗粗糙性強
  • 可以處理任何距離
  • 支持多層結構(*多5層)
  • 內置NG數據排除功能
  • 可進(jìn)行距離(形狀)測量(內置傳感器選件
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