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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
除了可實(shí)現高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過(guò)實(shí)施自動(dòng)可變測量機制支持所有類(lèi)型的薄膜。除了傳統的旋轉光子檢測器方法外，還通過(guò)為延遲板提供自動(dòng)安裝/拆卸機制來(lái)提高測量精度。
詳情介紹：
  • 橢偏參數可以在紫外-可見(jiàn)光 (300-800 nm) 波長(cháng)范圍內測量。
  • 納米級多層薄膜厚度分析成為可能
  • 可以通過(guò) 400 個(gè)或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓偏光
  • 支持通過(guò)可變反射角測量對薄膜進(jìn)行詳細分析
  • 通過(guò)創(chuàng )建光學(xué)常數數據庫和添加配方注冊功能提高了可操作性。
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