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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：膜厚監測儀 FE-300 Otsuka大冢蘇州售

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過(guò)簡(jiǎn)單的操作實(shí)現了高精度光學(xué)干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設備安裝在主體中，實(shí)現了穩定的數據采集。 通過(guò)以低廉的價(jià)格獲得**反射率，可以分析光學(xué)常數。
詳情介紹：
  • 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
  • 使用反射光譜分析薄膜厚度
  • 實(shí)現非接觸、非破壞的高精度測量，同時(shí)體積小、價(jià)格低
  • 簡(jiǎn)單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 通過(guò)峰谷法、頻率分析法、非線(xiàn)性*小二乘法、優(yōu)化法等，可以進(jìn)行多種膜厚測量。
  • 非線(xiàn)性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以進(jìn)行光學(xué)常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
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