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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：顯微光譜 OPTM Otsuka大冢蘇州售

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
它是一種通過(guò)使用顯微光譜測量微小區域內的優(yōu)良反射率，實(shí)現高精度膜厚和光學(xué)常數分析的設備。 可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等鍍膜的厚度?？蛇M(jìn)行1秒/點(diǎn)測量時(shí)間的高速測量。它還配備了軟件，即使是初學(xué)者也可以輕松分析光學(xué)常數。
詳情介紹：
  • 膜厚測量所需的功能集成在頭部
  • 使用顯微光譜進(jìn)行高精度優(yōu)良反射率測量（多層膜厚度、光學(xué)常數）
  • 1點(diǎn)1秒內高速測量
  • 在微觀(guān)條件下（紫外到近紅外）實(shí)現寬測量波長(cháng)范圍的光學(xué)系統
  • 區域傳感器的**機制
  • 簡(jiǎn)單的分析向導，即使是初學(xué)者也能分析光學(xué)常數
  • 配備宏功能，可讓您自定義測量順序
  • 可以分析復雜的光學(xué)常數（多點(diǎn)分析法）
  • 兼容 300mm 載物臺
  • 支持各種自定義
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